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SDメモリカド雷レコーダOLR-1P時計設定(秒押)セレクトUPDOWN回数リセット記録表示(秒押)入力端子CTSD劣化サージ電流SP劣化出力端子年月日回数時分秒電流レベルSPD劣化テスト測定OFF表示901081401010004554約2114本体φ19φ3714貫通型CTOLR-31P1326φ32φ54クランプ型CTOLR-31C取り扱い1.測定方法・サージ電流やSPD劣化接点動作を検知すると、電流レベルやSPD劣化接点動作とその検知時刻をSDメモリカードに記録し、接点出力(a接点)します。・テストボタンを押すと「TEST」と記録されます。2.記録表示表示します。・電源スイッチを「表示」にすると、時刻や記録回数を・記録表示ボタンを押すと、記録データを表示します。・時計設定ボタンを押すと時刻設定ができます。3.表示例2019年4月2日20時15分03秒にサージ電流レベル1000AとSPD劣化を検知した場合、下記の通りとなります。年月日回数2019/04/0220:15:031000*時分秒電流レベルSPD劣化OLR-31C雷の侵入やSPDの状態を“見える化”へ特長1.接地線などに侵入したサージ電流レベルとその検知時刻を記録、表示SPD(避雷器)の効果検証とメンテナンスに役立ちます。2.データはSDメモリカードに記録テキストデータで記録するため、専用ソフトを使用せずに、パソコンで表示します。3.サージ電流検知時、SPD劣化検知時に接点を出力(a接点1秒間)4.RoHS規制物質対応(OLR-31Pのみ)雷レコーダOLR-31C,OLR-31Pサージ検出器OLR-31P外形寸法図500C:クランプ型CTP:貫通型CT形式OLR-31□特性表形式適応注1)記録録媒録最大許容電流源電体記記数動性接点出力(a接点)CT付注3)取使境用作極環OLR-31COLR-31P太陽光システム専用電源用SPD(クラスⅠ、クラスⅡ、クラスⅢ)、電源用SPD(クラスⅠ、クラスⅡ、クラスⅢ)、制御電源回路用SPD、信号回線用SPD、電話回線用SPDなどの接地線・サージ電流レベル(8/20μs)100A,500A,1000Aとその時刻・SPD劣化接点動作(SPDと接続時)とその時刻25kA(8/20μsおよび10/350μs)単4形アルカリ乾電池4本(連続使用期間:約3年注2))SDメモリカード2GB(付属品)最大999件正・負(ただし判別しない)サージ電流検知時およびSPD劣化接点動作時クランプ型CT(内径:φ32)貫通型CT(内径:φ19)DINレール屋内用使用温度範囲質量測定時:0℃〜+50℃(但し結露しないこと)表示時:5℃〜+50℃(但し結露しないこと)本体部:約450gCT部:約100g注4)本体部:約450gCT部:約30g注4)注1)最大許容電流25kA(8/20μsおよび10/350μs)を超えないようにしてご使用ください。注2)使用温度やサージ検知頻度により変動します。注3)オプションとして、ネジ取付用金具(DIN-170)もご用意しております。注4)乾電池含む。入力端子CTSPD化サージ電流SP劣化出力端子CT接点出力(サージ電流)接地接点出力(SPD劣化)付属品SDメモリカード(2GB)使用例SPD劣化接点出力端子(a接点)LLESPD198
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